In Operando Spectroscopic Ellipsometry Investigation of MOF Thin Films for the Selective Capture of Acetic Acid.

MOFs adsorption ellipsometry thin films volatile organic compounds

Journal

ACS applied materials & interfaces
ISSN: 1944-8252
Titre abrégé: ACS Appl Mater Interfaces
Pays: United States
ID NLM: 101504991

Informations de publication

Date de publication:
01 Feb 2023
Historique:
pubmed: 20 1 2023
medline: 20 1 2023
entrez: 19 1 2023
Statut: ppublish

Résumé

The emission of polar volatile organic compounds (VOCs) is a major worldwide concern of air quality and equally impacts the preservation of cultural heritage (CH). The challenge is to design highly efficient adsorbents able to selectively capture traces of VOCs such as acetic acid (AA) in the presence of relative humidity (RH) normally found at storage in museums (40-80%). Although the selective capture of VOCs over water is still challenging, metal-organic frameworks (MOFs) possess highly tunable features (Lewis, Bronsted, or redox metal sites, functional groups, hydrophobicity, etc.) suitable to selectively capture a large variety of VOCs. In this context, we have explored the adsorption efficiency of a series of MOFs thin films (ZIF-8(Zn), MIL-101(Cr), and UiO-66(Zr)-2CF

Identifiants

pubmed: 36654492
doi: 10.1021/acsami.2c17682
doi:

Types de publication

Journal Article

Langues

eng

Sous-ensembles de citation

IM

Pagination

6069-6078

Auteurs

Sanchari Dasgupta (S)

Institut Lavoisier de Versailles, UMR CNRS 8180, Université de Versailles St Quentin en Yvelines, Université Paris Saclay, 78035 Versailles, France.

Subharanjan Biswas (S)

Institut Lavoisier de Versailles, UMR CNRS 8180, Université de Versailles St Quentin en Yvelines, Université Paris Saclay, 78035 Versailles, France.

Kevin Dedecker (K)

Institut Lavoisier de Versailles, UMR CNRS 8180, Université de Versailles St Quentin en Yvelines, Université Paris Saclay, 78035 Versailles, France.

Eddy Dumas (E)

Institut Lavoisier de Versailles, UMR CNRS 8180, Université de Versailles St Quentin en Yvelines, Université Paris Saclay, 78035 Versailles, France.

Nicolas Menguy (N)

UMR CNRS 7590, MNHN, IRD, Institut de Minéralogie, de Physique des Matériaux et de Cosmochimie (IMPMC), Sorbonne Université, 75005 Paris, France.

Bruno Berini (B)

Groupe d'Etudes de la Matière Condensée, UMR CNRS 8635, Université de Versailles St Quentin en Yvelines, Université Paris Saclay78035 Versailles, France.

Bertrand Lavedrine (B)

Centre de Recherche sur la Conservation, UAR CNRS 3224, Muséum National d'Histoire Naturelle, 75005 Paris, France.

Christian Serre (C)

Institut des Matériaux Poreux de Paris (IMAP), Ecole Normale Supérieure de Paris, ESPCI Paris, CNRS, PSL University, 75005 Paris, France.

Cédric Boissière (C)

CNRS, Collège de France, UMR Chimie de la Matière Condensée de Paris, Sorbonne Université, 75005 Paris, France.

Nathalie Steunou (N)

Institut Lavoisier de Versailles, UMR CNRS 8180, Université de Versailles St Quentin en Yvelines, Université Paris Saclay, 78035 Versailles, France.

Classifications MeSH